Katedra Metrologii, Elektroniki i Automatyki

Politechnika Śląska, Wydział Elektryczny

Kontakt

Politechnika Śląska

Wydział Elektryczny
Katedra Metrologii, Elektroniki i Automatyki

ul. Akademicka 10
44-100 Gliwice

tel.: +48 32 237-12-41
e-mail.: re2@polsl.pl

Ważniejsze osiągnięcia

Zespół w składzie: dr hab. inż. Tadeusz Skubis, prof. Pol. Śląskiej, dr inż. Andrzej Met oraz dr inż. Marian Kampik otrzymał tegoroczną Nagrodę Siemensa za pracę pt. Komparator etalonów indukcyjności własnej Nagroda ufundowana przez firmę Siemens sp. z o. o. w Polsce jest przyznawana raz w roku za wyróżniające się osiągnięcie w dziedzinie elektrotechniki, energetyki, elektroniki, automatyki i transportu szynowego. Opracowany przez zespół komparator jest osiągnięciem w skali światowej. Został wdrożony w Głównym Urzędzie Miar w Warszawie i w Physikalisch Technische Bundesanstalt w Braunschweigu w RFN do międzynarodowych komparacji wzorców indukcyjności o najwyższej dokładności. Przewodniczącym jury był Rektor Politechniki Warszawskiej prof. Stanisław Małkowski. Uroczystość wręczenia nagrody odbyła się w dniu 18.06.2003r. w Politechnice Warszawskiej, przy obecności Senatu i zaproszonych gości.

Nagroda Siemensa Nagroda Siemensa dr Met i dr Kampik Nagroda Siemensa prof.Skubis

Uroczystość wręczenia Nagrody Siemensa za rok 2002 w Małej Auli Politechniki Warszawskiej. W pierwszym rzędzie od prawej siedzą laureaci Nagrody: dr M. Kampik, dr A. Met, prof. T. Skubis, dalej poprzedni rektorzy Politechniki Warszawskiej, prof. W. Findeisen i prof. J. M. Woźnicki, Prezes Zarządu firmy Siemens K. Romanowski, przewodniczący Wydziału IV PAN prof. W. Włosiński, oraz laureat Nagrody Siemensa za rok 2001, wiceminister MNiI, prof. M. Bartosik

Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej liczy 25 członków. Przewodniczącym Komitetu jest Prof. Eugeniusz Ratajczyk z Politechniki Warszawskiej. W ramach Komitetu działa 5 sekcji, do których należy łącznie 120 członków. Pracownicy Instytutu Metrologii, Elektroniki i Automatyki (prof. dr hab. inż. Tadeusz Skubis, prof. dr hab. inż. Jan Zakrzewski ) aktywnie uczestniczą w jego pracach, a ponadto prof. dr hab. inż. Tadeusz Skubis pełni funkcję Przewodniczącego Sekcji Podstawowych Problemów Metrologii Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN. Poniżej znajdują się zdjęcia osób wchodzących w skład Zarządu Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej [PAK nr 2/2004 - wydanie specjalne].

Komitet PAN

Prace Komitetu odbywają się na organizowanych w różnych ośrodkach naukowych kraju posiedzeniach plenarnych oraz na zebraniach poszczególnych sekcji. Komitet współpracuje z KBN, ponadto obejmuje patronat nad licznymi konferencjami z obszaru metrologii oraz wykazuje dużą aktywność wydawniczą i konferencyjną zarówno krajową jak i zagraniczną.